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| 試驗(yàn)中有時(shí)發(fā)現(xiàn)絕緣電阻較低，泄漏電路大得被認(rèn)為不合格的試品，為何同時(shí)測(cè)得的tgδ值還合格呢？ |
| | [ 修改時(shí)間：2014/10/14 9:56:13 瀏覽次數(shù)：2260] | | | 絕緣電阻較低，泄漏電流大而不合格的試品，一般表明在被試的并聯(lián)等值電路中，某一之路絕緣電阻較低，而若干并聯(lián)電阻等值電路的tgδ值總是介于并聯(lián)電路中各支路****與最小tgδ之間，且比較接近體積較大或電容較大部分的值，只有當(dāng)絕緣狀況較差部分的體積很大時(shí)，實(shí)測(cè)tgδ值才能反應(yīng)出不合格值，當(dāng)此部分體積較小時(shí)，測(cè)得整體的tgδ值不一定很大，可能小于規(guī)定值，對(duì)于大型變壓器的試驗(yàn)，經(jīng)常出現(xiàn)這種現(xiàn)象，應(yīng)引起我們的注意，不致誤判斷。
相關(guān)設(shè)備：
HT系列絕緣電阻測(cè)試儀
HT2515雙顯智能兆歐表
HT系列抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
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